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          1. 客服热线:18680281884

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            CBTZ自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试,

            操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。

            与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试

            名称:CBTZ半自动探针台
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            CBTZ半自动探针台

            主要技术参数

            可测片型:3 寸、 4寸、5寸,6寸、8寸

            测试硅片单元尺寸:20—200 mil

            定位精度:≤ ±0.01mm/110mm

            自动对准精度:±0.01mm

            误测率:≤ 1 ‰

            全自动对位时间:≤ 15 s

            测试速度 45 mil   5.0 pcs/s

            50 mil   4.6 pcs/s

            87 mil   4.2 pcs/s

            步进分辨率:0.001

            Z向行程:0~5mm 可调

            承片台转角θ调节范围:±20o


            CBTZ-3100Z型自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试,操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。它与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试 。

            CBTZ半自动探针台.jpg


            操作方式

            CBTZ型自动对位探针台

            提供了清晰直观的触屏操作页面,

            手触点击即可完成对晶片的自动对位测试。

            除此之外还提供了更加简洁 

            便的小键盘操作方式,操作者可依据

            个人偏好和习惯选择任意种操作 

            CBTZ半自动探针台软件界面.jpg

            机器软件的操作界面

            CBTZ半自动探针台小功能键盘.jpg

            功能小键盘

            机器功能

            具有自动扫描对位功能,对位精度
            高、速速快,Windows7界面,动态map
            图显示测试过程。

            具有圆形测试,范围重测,探边

            测试,范围打点,回收测试,矩形
            测试和脱机打点多种测试功能。

            CBTZ半自动探针台机器功能.jpgCBTZ半自动探针台测试方法.jpg

            具有X、Y、Z三轴运动结构,操作软

            件能对垂直度、平面度进行精度补偿,保
            证机器的控制精度和工作的稳定性。
            具有实时打点、脱机打点和滞
            后打点功能。新型打点器,使用时
            间长达3天,不滴墨,省去60%的操作时间。
            CBTZ半自动探针台垂直度参数设置.jpgCBTZ半自动探针台打点设置.jpg

            具有Z轴行程分段运动功能,其

            分为基本高度、接触高度、接触缓冲、

            过冲高度和折回高度,并且具有探边

            功能,防止测试过程中探针对芯片的
            划伤和探针与芯片的接触不良。







            测试针痕比例图片(反光白点为针痕)

            CBTZ半自动探针台高度参数设置.jpg

            CBTZ半自动探针台芯粒数量设置.jpg

            多芯粒                               单芯粒


            应用案例:

            珠海多创科技CBTZ半自动探针台.png西安鹏泰航空动力技术CBTZ半自动探针台.png







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